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上海謹通儀器儀表有限公司
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號HOTMOS-1000
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地上海
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更新時間:2025-01-14 15:44:38瀏覽次數(shù):62次
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半導體微量光子檢測顯微鏡微光顯微鏡是捕獲半導體器件缺陷或失效點發(fā)射微量光子的一種無損檢測設(shè)備。在電激勵作用下,電子-空穴對或高能熱載子以光子的形式釋放出多余動能。根據(jù)此原理,利用高增益低噪聲的相機就能精確定位到缺陷位置。EMMI系統(tǒng)C主要適用于PN結(jié)漏電、氧化層崩潰、靜電放電破壞、閂鎖效應(yīng)、碰撞電離和雪崩擊穿等多種物理場景。
半導體微量光子檢測顯微鏡
半導體微量光子檢測顯微鏡
產(chǎn)品特征參數(shù)
軟件圖像處理功能
8寸高壓手動氣浮探針臺
紫外、可見光、紅外顯微光學系統(tǒng)
2倍、5倍、10倍、20倍與50倍紅外物鏡
400 -1000 nm 或900-1700 nm響應(yīng)波長
支持3000 V高壓偏置
相機與源表的一體化控制程序
應(yīng)用方向
GaN與SiC 基功率器件
的漏電“熱點"定位
GaN基LEDs與結(jié)型探測
器的漏電“熱點"定位
Si基MOSFET與IGBT等功
率器件的漏電失效“熱
點"定位
GaAs基激光器光分布與
漏電“熱點"定位
常規(guī)的器件的靜態(tài)電學
參數(shù)測試。
相關(guān)系列有關(guān)于芯片失效與缺陷檢測都可以聯(lián)系我司,可看樣機測試
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